BS EN 61191-6:2010
印刷电路板组件.球栅阵列(BGA)和网格阵列(LGA)的焊接接头内空隙及测量方法用评定标准

Printed board assemblies - Evaluation criteria for voids in soldered joints of BGA and LGA and measurement methods


BS EN 61191-6:2010 发布历史

BS EN 61191-6:2010由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2010-05-31,并于 2010-05-31 实施。

BS EN 61191-6:2010 在中国标准分类中归属于: L30 印制电路,在国际标准分类中归属于: 31.180 印制电路和印制电路板。

BS EN 61191-6:2010的历代版本如下:

  • 2010年 BS EN 61191-6:2010 印刷电路板组件.球栅阵列(BGA)和网格阵列(LGA)的焊接接头内空隙及测量方法用评定标准

 

IEC 61191的本部分规定了热循环寿命尺度上空洞的评估标准,以及使用X射线观察的空洞测量方法。 IEC 61191的本部分适用于焊接在板上的BGA和LGA焊点中产生的空洞。 IEC 61191 的这一部分不适用于组装在电路板上之前的 BGA 封装本身。 除BGA和LGA外,该标准还适用于具有通过熔化和再凝固制成的接头的器件,例如倒装芯片器件和多芯片模块。 本标准不适用于器件和电路板之间具有底部填充的接头,或器件封装内的焊点。 本标准适用于焊点中产生的尺寸为10μm至数百微米的大孔隙,但不适用于直径小于10μm的较小孔隙(通常为平面微孔隙)。 本标准旨在用于评估目的并适用于?研究研究,?离线生产过程控制和?装配可靠性评估

BS EN 61191-6:2010

标准号
BS EN 61191-6:2010
发布
2010年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 61191-6:2010
 
 

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