IEC 60749-23 AMD 1-2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

IEC 60749-23 AMD 1-2011 发布历史

IEC 60749-23 AMD 1-2011由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2011-01，并于 2011-01-01 实施。

IEC 60749-23 AMD 1-2011 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC 60749-23 AMD 1-2011的历代版本如下：

• 2011年01月 IEC 60749-23 AMD 1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期

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标准号

IEC 60749-23 AMD 1-2011

发布日期

2011年01月

实施日期

2011年01月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC