BS EN 15991-2011
陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

Testing of ceramic and basic materials. Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)


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标准号
BS EN 15991-2011
发布日期
2011年02月28日
实施日期
2011年02月28日
废止日期
2015-11-30
中国标准分类号
Q30
国际标准分类号
81.060.10
发布单位
GB-BSI
代替标准
BS EN 15991-2015

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