SN/T 2649.2-2010
进出口化妆品中石棉的测定 第2部分:X射线衍射-偏光显微镜法

Determination of asbestos in import and export cosmetics.Part 2:X-ray diffraction and polarized light microscopy method


SN/T 2649.2-2010 中,可能用到以下仪器设备

 

EDX-GP能量色散型X射线荧光分析装置

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

XRF-1800型X射线荧光光谱仪

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

ICP-2000电感耦合等离子体发射光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

SPS8000电感耦合等离子体发射光谱仪

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北京海光仪器有限公司

 

天瑞手持式P330/P530/P730S/P930能量色散分析仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

EDX3600B X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

X荧光光谱仪EDX660

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

HD1000型X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

NITON XL3t-700手持式RoHS分析仪

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赛默飞世尔科技便携式仪器

 

SPECTRO BLUE 全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪

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德国斯派克分析仪器公司SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co.KG

 

Optima 8000 电感耦合等离子体发射光谱仪

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司PerkinElmer

 

PlasmaQuant PQ9000高分辨率ICP发射光谱仪

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德国耶拿分析仪器股份公司

 

Genius 7000 XRF手持式矿石分析仪系列

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

Genius 3000P手持式有害元素分析仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

徕卡EZ系列立体显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

智能研究及偏光显微镜

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

ARL 9900系列波长色散型X射线荧光光谱仪

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赛默飞世尔科技元素分析部(Elemental)

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日立 IM4000PLUS离子研磨仪器

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

帕纳科Zetium X射线荧光光谱仪(XRF)

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英国马尔文仪器有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

SteREO Discovery v20体视显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

科研手持XRF光谱仪 TRACER 5g/手持光谱仪

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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

多功能粉末X射线衍射仪

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英国马尔文仪器有限公司

 

STEM探测器

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

手持式XRF光谱仪- 有害元素筛选

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牛津仪器(上海)有限公司

 

反射模式样品进样器(粉末衍射)

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北京优纳珂科技有限公司

 

布鲁克 D8 D8 ADVANCE 达芬奇 X射线衍射仪

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布鲁克衍射荧光事业部(AXS)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司

 

X-Supreme8000能量色散X射线荧光光谱仪

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日立分析仪器(上海)有限公司

 

日立EA1000VX X射线荧光分析仪

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SN/T 2649.2-2010



标准号
SN/T 2649.2-2010
发布日期
2010年11月01日
实施日期
2011年05月01日
废止日期
中国标准分类号
Y42
发布单位
CN-SN
适用范围
SN/T 2649的本部分规定了化妆品中X射线衍射-偏光显微镜法测定石棉的定性和定量方法。 本部分适用于以滑石粉为原料的化妆品中石棉的测定。

SN/T 2649.2-2010 中可能用到的仪器设备





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