ISO 14997:2011由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2011-04-15。
ISO 14997:2011 在中国标准分类中归属于: N30 光学仪器综合,在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。
* 在 ISO 14997:2011 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本国际标准确立了实施表面缺陷测量方法的物理原理和实用方法。 该方法评估被缺陷遮挡或影响的表面积。 该方法适用于各种光学元件的原型、小规模或大规模生产。 与特定组件相关的缺陷外观或功能公差可以通过供应商和客户之间的协议来确定。
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