ISO 14997:2011
光学和光学仪器.测定光学元件表面缺陷的试验方法

Optics and photonics - Test methods for surface imperfections of optical elements


ISO 14997:2011 中,可能用到以下仪器设备

 

sukhamburg光学元件

sukhamburg光学元件

海洋光学亚洲公司

 

可变涡旋波片/Variable spiral plate/Q-PLATE

可变涡旋波片/Variable spiral plate/Q-PLATE

上海昊量光电设备有限公司

 

表面光洁度

表面光洁度

江阴韵翔光电技术有限公司

 

ISO 14997:2011

标准号
ISO 14997:2011
发布
2011年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 14997:2017
当前最新
ISO 14997:2017
 
 
引用标准
ISO 10110-7 ISO 11145
本国际标准确立了实施表面缺陷测量方法的物理原理和实用方法。 该方法评估被缺陷遮挡或影响的表面积。 该方法适用于各种光学元件的原型、小规模或大规模生产。 与特定组件相关的缺陷外观或功能公差可以通过供应商和客户之间的协议来确定。

ISO 14997:2011相似标准


推荐

了解表面质量

适用于表面质量评级规定包括:1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009,针对光学电光仪器 – 光学元素组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7:2008,光学光电- 适用于光学元件系统制图 - 第7部分:表面缺陷公差*3、ISO14997:2003;光学光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷方法4、MIL-PRF-13830B;管理火控仪器光学组件制造、组装检测一般规格...

材料检测设备与技术大全

5、物理吸附仪与材料比表面孔体积物理吸附仪/比表面及孔径分析仪是对多孔粉体材料表面、孔体积、孔分布进行测定分析设备,广泛适用于高校及科研院所材料研究粉体材料生产企业产品质量监控。...

应用报告—可靠质量控制: 无损材料检测

与随机抽检相比,该方法实现了生产流程质量提高。无损检测利用材料不同物理性质,采用不同检测方法。主要方法概述如下:磁检测法采用这种方法,相关材料必须是铁磁体。它可以测定裂缝、收缩、外界影响以及一般缺陷。但是,由于磁力线影响,需要对纵向横向裂缝进行分别检测。毛细管检测法毛细管检测法仅适用于测定表面裂缝。采用这种方法时,检测物体表面涂上一层表面张力较低液体。...

ICP光谱仪“积劳成疾”,你该怎么办?

如果温度变化太大,光学元件受温度变化影响就会产生谱线漂移,造成测定数据不稳定,一般室温要求维持在20~25摄氏度间一个固定温度,温度变化应小于±1摄氏度。而环境湿度过大,光学元件,特别是光栅容易受潮损坏或性能降低。电子系统,尤其是印刷电路板及高压电源上元件容易受潮烧坏。...


ISO 14997:2011 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 14997:2011 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号