适用于表面质量评级的规定包括:1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009,针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*2、ISO10110-7:2008,光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分:表面缺陷公差*3、ISO14997:2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法4、MIL-PRF-13830B;管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格...
5、物理吸附仪与材料比表面和孔体积物理吸附仪/比表面及孔径分析仪是对多孔和粉体材料的比表面、孔体积、孔分布进行测定分析的设备,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控。...
与随机抽检相比,该方法实现了生产流程质量的提高。无损检测利用材料的不同物理性质,采用不同的检测方法。主要方法概述如下:磁检测法采用这种方法,相关材料必须是铁磁体。它可以测定裂缝、收缩、外界影响以及一般缺陷。但是,由于磁力线的影响,需要对纵向和横向裂缝进行分别检测。毛细管检测法毛细管检测法仅适用于测定表面裂缝。采用这种方法时,检测物体的表面涂上一层表面张力较低的液体。...
如果温度变化太大,光学元件受温度变化的影响就会产生谱线漂移,造成测定数据不稳定,一般室温要求维持在20~25摄氏度间的一个固定温度,温度变化应小于±1摄氏度。而环境湿度过大,光学元件,特别是光栅容易受潮损坏或性能降低。电子系统,尤其是印刷电路板及高压电源上的元件容易受潮烧坏。...
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