ISO 27911:2011由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2011-08。
ISO 27911:2011 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜,在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
* 在 ISO 27911:2011 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
近场光学显微镜(英文名:SNOM)是根据非辐射场的探测与成像原理,能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限,采用亚波长尺度的探针在距离样品表面几个纳米的近场范围进行扫描成像的技术,在近场观测范围内,在样品上进行扫描而同时得到分辨率高于衍射极限的形貌像和光学像的显微镜。 近场光学显微镜适用于超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。...
散射式近场光学显微镜利用AFM探针对激光光束聚焦照明,在针尖附近激发一个纳米尺度的增强近场信号区域。当针尖接近样品表面时,由于不同物质的介电性质差异,近场光学信息将被改变。通过背景压制技术对采集的散射信号进行解析,就能获取到样品表面的近场光学谱图并进行成像。该技术突破了传统孔径显微的限制,其分辨率仅由AFM探针针尖的曲率半径决定。 ...
纳米光刻在纳米光刻技术中,人们借助机械或电学的方法,用悬臂使样品表面改性。机械方法是将一个结实的特制悬臂大力刻入表面,电学方法则是使用偏压悬臂使表面区域发生氧化。近场扫描光学显微镜 ( NSOM)在近场扫描光学显微镜(NSOM)里中,人们使用一个特制的纳米孔径探针来进行形貌扫描。...
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