ISO 27911:2011
表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Definition and calibration of the lateral resolution of a near-field optical microscope
ISO 27911:2011 中，可能用到以下仪器
ISO 27911:2011相似标准
推荐
近场光学显微镜 原理及应用
近场光学显微镜（英文名：SNOM）是根据非辐射场的探测与成像原理，能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限，采用亚波长尺度的探针在距离样品表面几个纳米的近场范围进行扫描成像的技术，在近场观测范围内，在样品上进行扫描而同时得到分辨率高于衍射极限的形貌像和光学像的显微镜。 近场光学显微镜适用于超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。...
学术干货分享 I 原子力显微镜的工作原理
纳米光刻在纳米光刻技术中，人们借助机械或电学的方法，用悬臂使样品表面改性。机械方法是将一个结实的特制悬臂大力刻入表面，电学方法则是使用偏压悬臂使表面区域发生氧化。近场扫描光学显微镜 （ NSOM）在近场扫描光学显微镜（NSOM）里中，人们使用一个特制的纳米孔径探针来进行形貌扫描。...
扫描近场光学显微镜概述及应用
８０年代以来，随着科学技术向小尺度与低维空间的推进以及扫描探针显微技术的发展，在光学领域中出现了一个新学科一一近场光学。近场光学是指光探测器及探测器与样品间距均小于辐射波长条件下的光学现象；而近场光学显微镜是基于近场光学理论的一种新型超高空间分辨率光学仪器。１９８４年，近场光学显微镜的原型“光学听诊器”的发明，标志着人类*次突破了光学显微镜的衍射极限分辨率。...
“扫描近场光学显微技术”书写的发展史诗
散射式近场光学显微镜利用AFM探针对激光光束聚焦照明，在针尖附近激发一个纳米尺度的增强近场信号区域。当针尖接近样品表面时，由于不同物质的介电性质差异，近场光学信息将被改变。通过背景压制技术对采集的散射信号进行解析，就能获取到样品表面的近场光学谱图并进行成像。该技术突破了传统孔径显微的限制，其分辨率仅由AFM探针针尖的曲率半径决定。 ...