BS EN 60749-29:2011
半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.闩锁效应测试
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test
BS EN 60749-29:2011 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- BS EN 60749-29:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-29:2011
- 被代替标准
- BS EN 60749-29:2003
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