BS EN 60749-29:2011
半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.闩锁效应测试
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test
- 标准号
- BS EN 60749-29:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-29:2011
- 被代替标准
- BS EN 60749-29:2003
- 适用范围
- IEC 60749 的这一部分涵盖了集成电路的 I 测试和过压闩锁测试。 该测试被归类为破坏性测试。 该测试的目的是建立一种确定集成电路 (IC) 闩锁特性的方法并定义闩锁故障标准。 闩锁特性用于确定产品可靠性并最大限度地减少由于闩锁导致的“未发现故障”(NTF) 和“电气过应力”(EOS) 故障。 该测试方法主要适用于CMOS器件。 必须建立对其他技术的适用性。 作为温度函数的闩锁分类在 3.1 中定义，故障级别标准在 3.2 中定义