ASTM F1192-11
半导体装置重离子辐照导致的单粒子效应现象(SEP)测量的标准指南
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
说明：
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- 标准号
- ASTM F1192-11
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1192-11(2018)
- 当前最新
- ASTM F1192-11(2018)
- 许多现代集成电路、功率晶体管和其他设备在行星际空间、卫星轨道或短途穿过俘获辐射带时暴露于宇宙射线时都会经历 SEP。必须能够预测特定环境的 SEP 率，以便建立适当的技术来应对拟议系统中此类干扰的影响。随着技术向更高密度的 IC 发展，这个问题可能会变得更加严重。本指南旨在帮助实验人员进行地面测试，以获得能够进行 SEP 预测的数据。 1.1 本指南定义了测...
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