DS/EN 60444-8:2003
石英晶体振子参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体振子的测试夹具

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units


DS/EN 60444-8:2003 中,可能用到以下仪器设备

 

万通EQCM石英晶体微天平模块

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瑞士万通中国有限公司--实验室分析仪器

 

3T analytik 石英晶体微天平qCell

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德祥科技有限公司

 

标准号
DS/EN 60444-8:2003
发布
2003年
发布单位
丹麦标准化协会
当前最新
DS/EN 60444-8:2003
 
 
60444 的这一部分介绍了测试夹具,该夹具允许使用 IEC 60444-4 和 IEC 60444-5 中指定的零相位技术精确测量无引线表面安装石英晶体单元的谐振频率、谐振电阻和等效电路参数。然后显示使用测试夹具获得的等效电路常数和应用频率范围。此外,这适用于 IEC 61240 中所示的外壳,作为无引线的晶体单元。测试夹具的等效电路和电气值基于IEC 6...

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