DS/EN 60749-13/Corr.1-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004 发布历史

This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment.

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004由丹麦标准化协会 DK-DS 发布于 2004-02-12，并于 2003-12-23 实施。

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004的历代版本如下：

• 2004年02月12日 DS/EN 60749-13/Corr.1-2004

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004 老年人和残疾人用指南.信息和通信设备、软件和服务.第4部分:远程通信设备 于 2018-11-20 变更为 JIS X8341-4-2018 老年人和残疾人用指南. 信息和通信设备、软件和服务. 第4部分: 远程通信设备。

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DS/EN 60749-13/Corr.1-2004 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004

发布日期

2004年02月12日

实施日期

2003年12月23日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DK-DS

代替标准

JIS X8341-4-2018

适用范围

This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment.