LST EN 60749-5-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)

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标准号

LST EN 60749-5-2004

发布日期

2004年06月30日

实施日期

2004年06月30日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

LT-LST

代替标准

LST EN 14399-6-2015