LST EN 60749-5-2004
半导体设备 机械和气候测试方法 第5部分：稳态温度湿度偏置寿命测试（IEC 60749-5:2003）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)

被代替

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标准号

LST EN 60749-5-2004

发布

2004年

发布单位

立陶宛标准局

替代标准

LST EN 14399-6-2015

当前最新

LST EN 14399-6-2015

 

 

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