BS EN 60749-27:2006+A1:2012
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)
- 标准号
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
- 被代替标准
- 05/30128292 DC-2005 BS EN 60749:1999 BS EN 60749-27:2006
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