BS EN 60749-27:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

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标准号

BS EN 60749-27:2006

发布

2006年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

当前最新

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分建立了一个标准程序，用于根据半导体器件因暴露于定义的机器模型 (MM) 静电放电 (ESD) 而损坏或退化的敏感性来对半导体器件进行测试和分类。 它可以用作人体模型ESD测试方法的替代测试方法。 目的是提供可靠、可重复的 ESD 测试结果，以便进行准确的分类。 该测试方法适用于所有半导体器件，并被归类为破坏性测试。 半导体器件的 ESD 测试选自该测试方法、人体模型（HBM – 参见 IEC 60749-26）或 IEC 60749 系列中的其他测试方法。 MM 和 HBM 测试方法产生相似但不相同的结果。 除非另有说明，否则选择 HBM 测试方法。

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