IEC 60749-27:2012
半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检测.机械模型(MM)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- 标准号
- IEC 60749-27:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
- 当前最新
- IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
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