KS C IEC 60749-17-2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 17：Neutron irradiation

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标准号

KS C IEC 60749-17-2006

发布日期

2006年11月30日

实施日期

2006年11月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

韩国标准

适用范围

중성자 방사 시험은 중성자 환경에서 열화에 따른 반도체 소자의 내성(susceptibili