KS C IEC 60749-32-2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部感应)

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 32:Flammability of plastic-encapsulated devices(externally induced)


 

 

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标准号
KS C IEC 60749-32-2006
发布日期
2006年11月30日
实施日期
2006年11月30日
废止日期
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
KR-KATS
适用范围
이 규격은 반도체 소자(개별 소자 및 직접 회로)에 적용 가능하다.이 시험의 목적은 과




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