ASTM E1161-09(2014)
半导体和电子元件射线检验的标准实施规程

Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

被代替

ASTM E1161-09(2014) 发布历史

ASTM E1161-09(2014)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2009。

ASTM E1161-09(2014) 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合。

ASTM E1161-09(2014) 发布之时，引用了标准

• ANSI/ESD S20.20 ANSI/ESD S20.20-2021
• ASTM E1000 射线的标准指南
• ASTM E1079 透射密度计校准的标准实施规程
• ASTM E1254 射线照片和未曝光工业用射线照相胶片的储存
• ASTM E1255 射线检查标准实施规范
• ASTM E1316 无损检测标准术语
• ASTM E1390 工业射线照相用照明器的标准规范
• ASTM E1411 X射线透视系统鉴定的标准实施规程
• ASTM E1453 包含模拟或数字X射线检验数据的介质的存储
• ASTM E1475 数字放射性测试数据的计算机化传输数据组
• ASTM E1742 放射照象检验的标准实施规程
• ASTM E1815 工业射线照相胶片系统分类标准测试方法
• ASTM E1817 使用质量表示指示仪(RQI)的放射检验的质量控制标准实用规程
• ASTM E2339 无损评价（DICONDE）中数字成像和通信的标准实施规程
• ASTM E2597 数字探测器阵列设定的标准方法
• ASTM E431 半导体和相关器件射线照相解释的标准指南
• ASTM E543 无损检测机构的标准实施规程
• ASTM E666 计算γ或X射线吸收剂量的标准实施规程
• ASTM E801 电子设备放射检查质量控制的标准实施规程
• ASTM E94 放射性试验标准指南
• ASTM E999 工业射线照相胶片冲洗的质量控制的标准指南

ASTM E1161-09(2014)的历代版本如下：

• 2021年 ASTM E1161-21 半导体和电子元件射线照相检验的标准实施规程
• 2009年 ASTM E1161-09(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程
• 2009年 ASTM E1161-09 半导体和电子元件放射学检查标准实践
• 2003年 ASTM E1161-03 半导体和电子元件放射性检验的标准试验方法
• 1995年 ASTM E1161-95 半导体和电子元件的放射性的测试方法

1.1 本实践规定了半导体器件、微电子器件、电磁器件、电子电气器件以及用于构造这些物品的材料的无损放射学检查的最低要求。

1.2 这种做法涵盖了对这些物品进行放射学检查，以检测密封箱内可能存在的缺陷情况，尤其是因将盖子密封到箱上而产生的缺陷，以及内部缺陷，例如异物（异物）、不正确的互连线、芯片连接材料或玻璃（使用密封玻璃时）中的空隙或物理损坏。 1.3 以英寸-磅为单位的数值被视为标准值。本实践中不包括其他测量单位。

1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号

ASTM E1161-09(2014)

发布

2009年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1161-21

当前最新

ASTM E1161-21

 

 

引用标准

ANSI/ASNT CP-189 ANSI/ESD S20.20 ASTM E1000 ASTM E1079 ASTM E1254 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1390 ASTM E1411 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1742 ASTM E1815 ASTM E1817 ASTM E2339 ASTM E2597 ASTM E431 ASTM E543 ASTM E666 ASTM E801 ASTM E94 ASTM E999 MIL-PRF-28861 MIL-STD-202 MIL-STD-750 MIL-STD-883 MIL-STD-981