GB/T 30860-2014
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
GBT30860-2014, GB30860-2014
GB/T 30860-2014 发布历史
GB/T 30860-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-07-24，并于 2015-04-01 实施。
GB/T 30860-2014 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040 金属材料试验。
GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 30860-2014 。
GB/T 30860-2014 发布之时，引用了标准
- GB/T 1031 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.表面粗糙度参数及其数值
- GB/T 10610 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.评定表面结构的规则和方法
- GB/T 14264 半导体材料术语
- GB/T 18777 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.相位修正滤波器的计量特性
- GB/T 26071 太阳能电池用硅单晶片*， 2018-09-17 更新
- GB/T 29055 光伏太阳能电池用多晶硅片*， 2019-06-04 更新
- GB/T 29505 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
- GB/T 30859 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
- GB/T 3505 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.术语、定义及表面结构参数
- GB/Z 26958.1 产品几何技术规范(GPS）滤波.第1部分：概述和基本概念
- GB/Z 26958.20 产品几何技术规范(GPS).滤波.第20部分：线性轮廓滤波器.基本概念
- GB/Z 26958.22 产品几何技术规范(GPS).滤波.第22部分：线性轮廓滤波器.样条滤波器
- GB/Z 26958.29 产品几何技术规范(GPS).滤波.第29部分：线性轮廓滤波器.样条小波
- GB/Z 26958.30 产品几何技术规范(GPS) 滤波 第30部分:稳健轮廓滤波器 基本概念*， 2017-02-28 更新
- GB/Z 26958.31 产品几何技术规范(GPS).滤波.第31部分：稳健轮廓滤波器.高斯回归滤波器
- GB/Z 26958.32 产品几何技术规范(GPS).滤波.第32部分：稳健轮廓滤波器.样条滤波器
- GB/Z 26958.40 产品几何技术规范(GPS).滤波.第40部分：形态学轮廓滤波器.基本概念
- GB/Z 26958.41 产品几何技术规范(GPS).滤波.第41部分：形态学轮廓滤波器.圆盘和水平线段滤波器
- GB/Z 26958.49 产品几何技术规范(GPS).滤波.第49部分：形态学轮廓滤波器.尺度空间技术
* 在 GB/T 30860-2014 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GB/T 30860-2014的历代版本如下：
- 2014年 GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。
- 标准号
- GB/T 30860-2014
- 别名
- GBT30860-2014
GB30860-2014 - 发布
- 2014年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 30860-2014
- 引用标准
- GB/T 1031 GB/T 10610 GB/T 14264 GB/T 18777 GB/T 26071 GB/T 29055 GB/T 29505 GB/T 30859 GB/T 3505 GB/Z 26958.1 GB/Z 26958.20 GB/Z 26958.22 GB/Z 26958.29 GB/Z 26958.30 GB/Z 26958.31 GB/Z 26958.32 GB/Z 26958.40 GB/Z 26958.41 GB/Z 26958.49