GB/T 4937.1-2006
半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 标准号
- GB/T 4937.1-2006
- 别名
- GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 发布
- 2006年
- 采用标准
- IEC 60749-1:2002 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 4937.1-2006
- 引用标准
- IEC 60050 IEC 60747 IEC 60748
- 被代替标准
- GB/T 4937-1995
- 适用范围
- 本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。
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