KS C IEC 60749-34:2006
半导体器件.机械和环境测试方法.第34部分:电力循环

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 34:Power cycling

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标准号

KS C IEC 60749-34:2006

发布

2006年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS C IEC 60749-34:2017

当前最新

KS C IEC 60749-34-2017(2022)

 

 

适用范围

이 시험 방법은 반도체 내부 다이 및 내부 커넥터에서 소비하는 전력의 사이클링으 로 인한

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