KS C IEC 60749-8-2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 8：Sealing

KS C IEC 60749-8-2006 发布历史

이 규격은 반도체 소자(개별 소자, 집적 회로)에 적용 가능하다.이 시험 방법의 목적은

KS C IEC 60749-8-2006由韩国标准 KR-KATS 发布于 2006-11-30，并于 2006-11-30 实施。

KS C IEC 60749-8-2006 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

KS C IEC 60749-8-2006的历代版本如下：

• 2006年11月30日 KS C IEC 60749-8-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封

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标准号

KS C IEC 60749-8-2006

发布日期

2006年11月30日

实施日期

2006年11月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 반도체 소자(개별 소자, 집적 회로)에 적용 가능하다.이 시험 방법의 목적은