KS L 1619-2003
电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with four point probe method

KS L 1619-2003 发布历史

이 규격은 전도성 세라믹 박막의 비저항을 4탐침법에 의해 시험하는 방법에 관하여 정의한

KS L 1619-2003由韩国标准 KR-KATS 发布于 2003-01-06，并于 2003-01-06 实施。

KS L 1619-2003 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

KS L 1619-2003的历代版本如下：

• 2003年01月06日 KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
• 2013年10月26日 KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

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标准号

KS L 1619-2003

发布日期

2003年01月06日

实施日期

2003年01月06日

废止日期

无

中国标准分类号

Q32

国际标准分类号

29.045

发布单位

KR-KATS

代替标准

KS L 1619-2013

适用范围

이 규격은 전도성 세라믹 박막의 비저항을 4탐침법에 의해 시험하는 방법에 관하여 정의한