SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

Test method for measuring resistivity, hall coefficient and determining hall mobility in semi-insulating GaAs single crystals

SJT11488-2015, SJ11488-2015


标准号
SJ/T 11488-2015
别名
SJT11488-2015, SJ11488-2015
发布
2015年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 11488-2015
 
 
适用范围
本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。本标准适用于电阻率在104 Ω·cm~109 Ω·cm范围内的半绝缘砷化镓单晶材料电学参数的测量。

SJ/T 11488-2015相似标准


推荐

浅析适用于射频微波等高频电路的半导体材料及工艺 -1

半导体材料是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在 1mΩ·cm~1GΩ·cm 范围内)、可用来制作半导体器件集成电路的电子材料。按种类可以分为元素半导体化合物半导体两大类,元素半导体指硅、锗单一元素形成的半导体,化合物指、磷化铟等化合物形成的半导体。...

材料的研究进展

于1964年进入实用阶段。可以制成电阻率比硅、锗高3个数量级以上的绝缘高阻材料,用来制作集成电路衬底、红外探测器、γ光子探测器等。由于其电子迁移率比硅大5~6倍,故在制作微波器件高速数字电路方面得到重要应用。用制成的半导体器件具有高频、高温、低温性能好、噪声小、抗辐射能力强等优点。此外,还可以用于制作转移器件──体效应器件。...

M91快速霍尔测量选件登陆PPMS系统

2K温度下使用PPMS 0-9T扫场的二维电子气薄膜,采用范德堡测量法横向及纵向电输运测量结果准确反应了材料的整数量子霍尔效应传统的直流场霍尔效应测量对于具有较高迁移率的简单材料来说相对简单可靠。但伴随着载流子迁移率的降低,测量难度增加,精度降低。在光伏、热电有机物等前景广阔的新型半导体材料中,测量难度就增加了不少。...


SJ/T 11488-2015 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号