GB/T 32278-2015
碳化硅单晶片平整度测试方法
Test method for flatness of silicon carbide single wafer
GBT32278-2015, GB32278-2015
GB/T 32278-2015 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GB/T 32278-2015
- 别名
- GBT32278-2015
GB32278-2015 - 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 32278-2015
- 引用标准
- GB 50073 GB/T 14264
GB/T 32278-2015相似标准
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