BS EN 60749-44:2016
半导体器件. 机械和气候试验方法. 半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
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- 标准号
- BS EN 60749-44:2016
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-44:2016
- 引用标准
- EN 60749-38 IEC 60749-38 IEC 62396-4 IEC 62396-5 JEITA EDR4705 JESD89-1A JESD89-2A JESD89-3A JESD89-A
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