BS EN 62435-2-2017
电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第2部分: 劣化机制

Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices. - Part 2: Deterioration mechanisms

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标准号

BS EN 62435-2-2017

发布日期

2017年07月06日

实施日期

2017年07月06日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.020

发布单位

GB-BSI

引用标准

IEC/TR 62258-3-2010 Ed 2 IEC 60721-3-1-1997 IEC 62435-4 IEC 60749-20-1-2009 Ed 1 IEC 60410-1973 IEC 62435-1-2017 IEC 60749-21-2011 Ed 2 IEC 60721-3-3-1994 Cons Ed 2-2 IEC 61340-5-1-2007 Ed 1 EN 190 000-1995 IEC 62435-9 IEC 60068-2-17-1994 IEC/TS 61945-2000 IEC 60068-2-20-2008 IPC/JEDEC J-STD-033B-2005 IEC TR 62380-2004 IEC 62435-5-2017 IEC TR 61340-5-2-2007/COR1-2009 IEC 61760-4-2015

BS EN 62435-2-2017系列标准