GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
GBT5594.8-2015, GB5594.8-2015
GB/T 5594.8-2015 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 5594.8-2015
- 别名
- GBT5594.8-2015
GB5594.8-2015 - 发布
- 2015年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 引用标准
- GB/T 9530-1988
- 被代替标准
- GB/T 5594.8-1985
- GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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