GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
- 标准号
- GB/T 5594.8-2015
- 发布日期
- 2015年05月15日
- 实施日期
- 2016年01月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L90
- 国际标准分类号
- 31-030
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- GB/T 9530-1988
- 被代替标准
- GB/T 5594.8-1985
- 适用范围
- GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB/T 5594.8-2015系列标准
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GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法