GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
GBT5594.8-2015, GB5594.8-2015
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：GB/T 5594.8-2015 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- GB/T 5594.8-2015
- 别名
- GBT5594.8-2015
GB5594.8-2015 - 发布
- 2015年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 引用标准
- GB/T 9530-1988
- 被代替标准
- GB/T 5594.8-1985
- GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB/T 5594.8-2015相似标准
推荐
质检总局、国标委联合发布357项国标 6项涉及食品检测
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 GB/T 5594.6-1985 2016-01-01 GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 GB/T 5594.7-1985 2016-01-01 GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 GB/T...
扫描电镜在电子陶瓷中的应用
[4]目前研究者们常采用调节 Sr/Ba 比，掺杂元素等方法来达到改善性能的目的。然而，其根本还是通过改变材料的微结构来调控材料性能。图3是场发射扫描电镜SEM5000测试的钛酸锶钡烧结品的背散射电子像，低倍下可用于表征材料的成分均匀度，同时高倍下的背散射电子像也具有一定的形貌衬度。图3 钛酸锶钡烧结品的微观形貌陶瓷材料、金属材料、高分子材料是当今社会应用最广泛的三大材料。...
815项国家标准拟废止含大量仪器检测标准
/T 15750-2008压电陶瓷材料性能测试方法 老化性能的测试全国海洋船标准化技术委员会GB/T 3389-2008压电陶瓷材料性能测试方法 性能参数的测试全国海洋船标准化技术委员会GB/T 7739.11-2007金精矿化学分析方法 第11部分：砷量和铋量的测定全国黄金标准化技术委员会GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）全国纳米技术标准化技术委员会...
GB/T 5594.8-2015系列标准
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法