GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory
GBT36477-2018, GB36477-2018
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- 标准号
- GB/T 36477-2018
- 别名
- GBT36477-2018
GB36477-2018 - 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 36477-2018
- 引用标准
- GB/T 17574-1998
- 适用范围
- 本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。