GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory
GB/T 36477-2018 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 36477-2018
- 发布日期
- 2018年06月07日
- 实施日期
- 2019年01月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 发布单位
- 国家质检总局
- 引用标准
- GB/T 17574-1998
- 适用范围
- 本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。