EN 15991:2015
陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)


 

 

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标准号
EN 15991:2015
发布
2015年
发布单位
欧洲标准化委员会
当前最新
EN 15991:2015
 
 
引用标准
EGV 2037/2000-2000 EN ISO 21068-1:2008 ISO 5022:1979 ISO 5725-2:1994 ISO 5725-4:1994 ISO 8656-1:1988 ISO/IEC Guide 98-3:2008
被代替标准
FprEN 15991-2015
本欧洲标准规定了粉状和粒状碳化硅中 Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V 和 Zr 痕量元素浓度的测定方法。 取决于元素、波长、等离子体条件和重量,该测试方法适用于约0.1mg/kg至约1000mg/kg的上述痕量污染物的质量含量,评估后也适用于0.001mg/kg至约5000mg/kg毫克/公斤。 注 1:一般来说,对于使用电感耦合等离子体(...

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