EN 15991:2015
陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)


EN 15991:2015 发布历史

EN 15991:2015由欧洲标准化委员会 IX-CEN 发布于 2015-11。

EN 15991:2015 在中国标准分类中归属于: Q30 陶瓷、玻璃综合,在国际标准分类中归属于: 81.060.10 原料。

EN 15991:2015 陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定的最新版本是哪一版?

最新版本是 EN 15991:2015

EN 15991:2015 发布之时,引用了标准

  • EN ISO 21068-1:2008 含碳化硅的原材料和耐火制品的化学分析.第1部分:一般信息和样品制备
  • ISO 5022:1979 定型耐火制品 取样和验收试验
  • ISO 5725-2:1994 测试方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第2部分:确定标准测试方法重复性和可再现性的基本方法
  • ISO 5725-4:1994 测试方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第4部分:确定测试方法正确度的基本方法
  • ISO 8656-1:1988 耐火制品 原料及不定形材料的取样 第1部分:取样方案
  • ISO/IEC Guide 98-3:2008 测量的不确定性.第3部分:测量不确定性的表达指南(GUM-1995)

EN 15991:2015的历代版本如下:

  • 2015年 EN 15991:2015 陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定
  • 2011年 EN 15991:2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

 

本欧洲标准规定了粉状和粒状碳化硅中 Al、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V 和 Zr 痕量元素浓度的测定方法。 取决于元素、波长、等离子体条件和重量,该测试方法适用于约0.1mg/kg至约1000mg/kg的上述痕量污染物的质量含量,评估后也适用于0.001mg/kg至约5000mg/kg毫克/公斤。 注 1:一般来说,对于使用电感耦合等离子体(ICP OES)和电热汽化(ETV)的光学发射光谱法,线性工作范围高达四个数量级。 对于各个元素,可以通过改变重量或通过选择具有不同灵敏度的线来扩展该范围。 经过充分验证,该标准还适用于其他金属元素(Rb和Cs除外)和一些非金属污染物(如P和S)以及其他相关非金属粉末或颗粒材料,如碳化物、氮化物、石墨、烟灰、焦炭、煤和一些其他氧化材料。 注 2:在石墨、B4C、Si3N4、BN 和几种金属氧化物等材料以及其中一些材料中 P 和 S 的测定方面有积极的经验。

标准号
EN 15991:2015
发布
2015年
发布单位
欧洲标准化委员会
当前最新
EN 15991:2015
 
 
引用标准
EGV 2037/2000-2000 EN ISO 21068-1:2008 ISO 5022:1979 ISO 5725-2:1994 ISO 5725-4:1994 ISO 8656-1:1988 ISO/IEC Guide 98-3:2008
被代替标准
FprEN 15991-2015

EN 15991:2015相似标准


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