四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。 超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司研发的产品,目前已被多家企业咨询,预定,购买。...
本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探器行业已运用了三十多年,积累了丰富的使用经验,经过数次十多个单位巡回测试的考验,证明是一种成熟的测试方法,特别适合于硅块、硅棒的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,因此制样特别简便。...
序号标准编号标准名称代替标准号实施日期1GB/T 1551-2021硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法GB/T 1551-20092021-12-012GB/T 2423.18-2021环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)GB/T 2423.18-20122021-12-013GB/T 2423.33-2021环境试验 第2部分:试验方法 试验Kca:高浓度二氧化硫试验...
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