ISO 23692:2021
微束分析.电子探针显微分析.连续铸钢产品中Mn树枝状偏析的定量分析
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative analysis of Mn dendritic segregation in continuously cast steel product
ISO 23692:2021相似标准
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2013年度北京电子显微学年会大会报告（二）
微束分析-半导体探测器X射线能谱仪通则仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。该标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的最低要求，至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。 GB/T 25189-2010 微束分析-扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法，该标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。...
定量分析中实验条件的选择
晶体的选择还应考虑试样的测试要求。如用LiF晶体进行分光，适合于测定常量Ti。图89.8 X射线强度与束斑直径的关系测定少量或微量Ti应选择PET晶体。对V、Cr、Mn、Fe等元素也有类似的情况。89.3.1.5 脉冲高度分析器的准确使用在电子探针定量分析中，不仅存在一次特征X射线间的相互干扰，还经常发生高次衍射线对主测量线的干扰。...
金属和合金微观分析常用技术盘点
离子探针质量显微分析仪(SIMS) 以聚焦很细（1～2 微米）的高能（10～20 千电子伏）一次离子束作为激发源照射样品表面，使其溅射出二次离子并引入质量分析器，按照质量与电荷之比进行质谱分析的高灵敏度微区成分分析仪器，简称离子探针。它在功能上与电子探针类似，只是以离子束代替电子束，以质谱仪代替X射线分析器。 ...
岛津EPMA超轻元素分析之（一）｜ 超轻元素的电子探针测试难点和岛津解决方案
超轻元素分析的难点电子探针作为微区分析仪器，是利用从试样内部微米级别体积范围内被高能聚焦的入射电子束激发出的特征X射线信号来进行元素的定性及定量分析。...