ISO 19749:2021
纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布

Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy


ISO 19749:2021 中,可能用到以下仪器设备

 

奥林巴斯LEXT OLS4500 纳米检测显微镜

奥林巴斯LEXT OLS4500 纳米检测显微镜

奥林巴斯(中国)有限公司

 

FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

ISO 19749:2021

标准号
ISO 19749:2021
发布
2021年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 19749:2021
 
 
引用标准
ISO 13322-1 ISO 16700 ISO 26824 ISO 9276-1 ISO 9276-2 ISO 9276-3 ISO 9276-5 ISO 9276-6 ISO/IEC 17025 ISO/IEC Guide 99 ISO/TS 24597:2011 ISO/TS 80004-1 ISO/TS 80004-2 ISO/TS 80004-3 ISO/TS 80004-4 ISO/TS 80004-6
本文件详细说明了通过获取和评估扫描电子显微镜图像以及获得和报告准确结果来确定纳米颗粒尺寸和形状分布的方法。 注 1:本文件适用于具有较低尺寸限制的颗粒,该尺寸限制取决于所需的不确定性和 SEM 的合适性能,这将首先根据本文件中描述的要求进行证明。 注 2:本文件也适用于大于纳米级颗粒的基于 SEM 的尺寸和形状测量。

ISO 19749:2021相似标准


推荐

为什么扫描电镜是纳米颗粒的重要表征技术

显然,这些颗粒的可调节性是令人着迷的,由于它们在应用中的巨大潜力巨大变化,已经吸引了世界各地许多研究团队的目光。原理上,材料的性质可以通过改变尺寸形状进行调整。为实现这一点,已经采用了许多表征技术来获得颗粒形状尺寸分布。获取颗粒图像的同时统计出测量结果是最理想的,但充满了挑战。自动化分析程序如 Paticle Metric(图3)则可以帮助您实现这个目标。...

纳米材料的粒度分析

根据材料颗粒度的不同,既可采用一般的光学显微镜,也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定防卫为0.8~150ųm,小于0.8ųm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm~5ųm范围内的颗粒,适合纳里材料的粒度大小形貌分析。显微镜法可以了解在制备过程中颗粒形状,绘出特定表面的粒度分布图,而不只是平均粒度的分布图。...

应用分享丨使用自动化颗粒工作流程,进行催化剂表征

催化剂纳米颗粒表征的科学涉及纳米级(尺寸范围为 1 至 100 纳米)结构的探索掌控。目标为了获得有关纳米颗粒形状、大小化学组成的统计学相关信息,通常需要根据其均匀性来表征 500 到数千个纳米颗粒。手动操作的情况下,每天只能分析不到 100 个颗粒,因此整个表征过程很快就会变得冗长而乏味。图1使用 APW 进行自动化的大面积 TEM 采集,以分析单个纳米颗粒参数。...

扫描电子显微镜在非金属材料领域的应用

为此,相继出现了扫描电子显微镜——电子探针多种分析功能的组合型仪器,如常与EDS(X射线能谱仪)联用,对材料进行定性半定量分析。  (4)扫描电子显微镜分辨率可达纳米级别,可对纳米材料进行观察。  纳米材料的一切独特性能主要源于它的超微尺寸,通过使用高分辨率的SEM对纳米级材料进行形貌观察尺寸检测,对纳米材料的研究及应用起到了基础性的作用。...


ISO 19749:2021 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号