PNS IEC 62373-1-2021
半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的偏压温度稳定性试验.第1部分：MOSFET的快速BTI试验

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-ox ide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET

PNS IEC 62373-1-2021 发布历史

PNS IEC 62373-1-2021由PH-BPS 发布于 2021。

PNS IEC 62373-1-2021 在中国标准分类中归属于: L40/49 半导体分立器件，在国际标准分类中归属于: 31.080.99 其他半导体分立器件。

PNS IEC 62373-1-2021的历代版本如下：

• 2021年 PNS IEC 62373-1-2021 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的偏压温度稳定性试验.第1部分：MOSFET的快速BTI试验

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标准号

PNS IEC 62373-1-2021

发布日期

2021年

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40/49

国际标准分类号

31.080.99

发布单位

PH-BPS