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tem 方法

本专题涉及tem 方法的标准有8条。

国际标准分类中，tem 方法涉及到集成电路、微电子学。

在中国标准分类中，tem 方法涉及到半导体集成电路。

法国标准化协会，关于tem 方法的标准

• NF EN 61967-8:2012 集成电路 - 电磁发射测量 - 第 8 部分：辐射发射测量 - IC 带状线 TEM 方法
• NF EN 62132-2:2011 集成电路 - 电磁抗扰度的测量 - 第 2 部分：辐射抗扰度的测量 - TEM 池方法和宽带 TEM 池
• NF EN 61967-2:2006 集成电路 - 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室方法和宽带 TEM 室

美国机动车工程师协会，关于tem 方法的标准

• SAE J1752/3-1995 集成电路辐射发射的测量-Tem/宽带 Tem（Gtem）电池方法； Tem Cell（150 Khz 至 1 Ghz）、宽带 Tem Cell（150 Khz 至 8 Ghz）

ES-UNE，关于tem 方法的标准

• UNE-EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
• UNE-EN 61967-2:2005 集成电路 电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法

德国标准化学会，关于tem 方法的标准

• DIN EN 61967-2:2006-03 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室和宽带 TEM 室方法 (IEC 61967-2:2005)

英国标准学会，关于tem 方法的标准

• BS EN 62132-2:2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法

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