ZH
EN
ES
Темный метод
Темный метод, Всего: 8 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Темный метод, являются: Интегральные схемы. Микроэлектроника.
Association Francaise de Normalisation, Темный метод
- NF EN 61967-8:2012 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Полосковый метод TEM для ИС.
- NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
- NF EN 61967-2:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосная ячейка TEM.
Society of Automotive Engineers (SAE), Темный метод
- SAE J1752/3-1995 Измерение излучаемых излучений интегральных схем – метод ячеек Tem/Wideband Tem (Gtem); Tem Cell (от 150 кГц до 1 ГГц), широкополосная Tem Cell (от 150 кГц до 8 ГГц)
ES-UNE, Темный метод
- UNE-EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в июле 2011 г.).
- UNE-EN 61967-2:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод ячейки TEM и широкополосной ячейки TEM (одобрено AENOR в январе 2006 г.)
German Institute for Standardization, Темный метод
- DIN EN 61967-2:2006-03 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 2. Измерение излучаемых излучений. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки (IEC 61967-2:2005)
British Standards Institution (BSI), Темный метод
- BS EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Ячейка TEM и метод широкополосной ячейки TEM