晶片检测

本专题涉及晶片检测的标准有1条。

国际标准分类中，晶片检测涉及到半导体材料。

在中国标准分类中，晶片检测涉及到半金属与半导体材料综合。

国家质检总局，关于晶片检测的标准

• GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

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