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光电 二极管
本专题涉及光电 二极管的标准有71条。
国际标准分类中，光电 二极管涉及到光电子学、激光设备、半导体分立器件、光纤通信、印制电路和印制电路板、核能工程。
在中国标准分类中，光电 二极管涉及到半导体发光器件、半导体二极管、半导体光敏器件、照相机与照相器具、电气照明综合、光通信设备、、光电子器件综合、电子测量与仪器综合、核探测器、核仪器与核探测器综合。
行业标准-兵工民品，关于光电 二极管的标准
- WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
- WJ 2265-1995 带前放硅雪崩光电二极管规范
- WJ 2506-1998 光电二极管动态测试仪检定规程
ES-UNE，关于光电 二极管的标准
- UNE-EN 120005:1992 BDS：光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用）
- UNE-EN 120006:1992 BDS：用于光纤应用的 PIN 光电二极管
德国标准化学会，关于光电 二极管的标准
- DIN EN 120005:1996 空白详细规范:光电二极管,光电二极管阵列(非光纤用)
- DIN EN 120005:1996-11 空白详细规范 - 光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用）
- DIN IEC 62088:2002-09 核仪器 闪烁探测器光电二极管 测试程序
- DIN IEC 62088:2002 核仪表设备.闪烁检测器用光电二极管.试验程序 (IEC 62088:2001)
法国标准化协会，关于光电 二极管的标准
- NF EN 120005:1992 空白规格：光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用}
- NF C93-120-005*NF EN 120005:1992 空白详细规范：光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用）
- NF C86-505:1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005
- NF C93-872:1987 插销式光电二极管数字接收器
- NF C96-551/A2:1981 光电发光二极管光电耦合器相关文章表
- NF C96-551/A3:1981 光电发光二极管光电耦合器相关文章表
SE-SIS，关于光电 二极管的标准
- SIS SS CECC 20005-1988 空白详细规范．光电二极管、光电二极管阵列（不用于光纤应用）
- SIS SS CECC 20006-1988 空白详细规范．光纤应用的PIN光电二极管
立陶宛标准局，关于光电 二极管的标准
- LST EN 120005-2001 空白详细规范 光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用）
行业标准-电子，关于光电 二极管的标准
- SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
- SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
- SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
- SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
- SJ 50033/102-1995 GD218型InGaAs/InP PIN 光电二极管详细规范
- SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
- SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
- SJ 50033/112-1996 半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范
- SJ 50033/113-1996 半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范
- SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
- SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
- SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
- SJ 20644.1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
- SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范
- SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
- SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
- SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
- SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
- SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
- SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
- SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
- SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
行业标准-机械，关于光电 二极管的标准
- JB/T 5186-1991 照相机用硅光电二极管
韩国科技标准局，关于光电 二极管的标准
- KS C 6990-2001 光传输用光电二极管通则
- KS C 6991-2001 光传输用光电二极管试验法
- KS C 6990-2013 光纤传输光电二极管的一般规则
- KS C 6991-2013 光纤传输光电二极管的测试方法
- KS C 6990-2001(2011) 一种用于光传输的公理光电二极管
- KS C 6991-2001(2011) 用于光传输的测试方法所述的光电二极管
英国标准学会，关于光电 二极管的标准
- BS EN 120005:1986 电子元器件质量评定协调系统.空白详细规范.光电二极管、光电二极管阵列(非光纤用)
- BS EN 120005:1993 电子元件质量评估协调制度规范 空白详细规范 光电二极管、光电二极管阵列（不适用于光纤应用）
- BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
- BS EN 120006:1993(1999) 电子元件质量评估协调制度规范 — 空白详细规范 — 光纤应用的引脚光电二极管
行业标准-邮电通信，关于光电 二极管的标准
- YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法
邮电部，关于光电 二极管的标准
- YD/T 0835-1996 雪崩光电二极管检测方法
日本工业标准调查会，关于光电 二极管的标准
- JIS C 5990:1997 光纤传输用光电二极管总则
- JIS C 5991:1997 光纤传输用光电二极管测量方法
CZ-CSN，关于光电 二极管的标准
- CSN 35 8761-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．光电流测量
- CSN 35 8762-1973 半导体设备．光电晶体管光电二极管．暗电流测量
国际电工委员会，关于光电 二极管的标准
- IEC 60747-5-7:2016 半导体设备. 第5-7部分: 光电设备. 光电二极管和光电晶体管
- IEC 60747-5-8:2019 半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
GSO，关于光电 二极管的标准
- GSO IEC 60747-5-7:2021 半导体器件 第5-7部分：光电器件 光电二极管和光电晶体管
- BH GSO IEC 60747-5-7:2022 半导体器件 第5-7部分：光电器件 光电二极管和光电晶体管
- GSO IEC 62088:2014 核测量仪器 闪烁体光电二极管 测试程序
- OS GSO IEC 62088:2014 核仪器仪表 闪烁探测器用光电二极管 测试程序
- BH GSO IEC 62088:2016 核仪器仪表 闪烁探测器用光电二极管 测试程序
- GSO IEC 60306-2:2014 光敏仪器的测量 第2部分：光电二极管的测量方法
国家质检总局，关于光电 二极管的标准
- GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管.试验方法
- GB/T 15651.7-2024 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
RO-ASRO，关于光电 二极管的标准
- STAS 12258/2-1984 光电半导体装置．光电二极管术语和基本特性
IEC - International Electrotechnical Commission，关于光电 二极管的标准
- IEC 62088:2001 核仪器 闪烁探测器光电二极管 测试方法（1.0 版）
GB-REG，关于光电 二极管的标准
- REG NASA-LLIS-1840--2006 经验教训 CALIPSO 雪崩光电二极管（APD）探测器组件电气故障
