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x衍射+ 晶体
本专题涉及x衍射+ 晶体的标准有7条。
国际标准分类中，x衍射+ 晶体涉及到化工产品、金属生产、金属材料试验、教育、半导体材料、分析化学。
在中国标准分类中，x衍射+ 晶体涉及到金属化学分析方法综合、教学专用仪器、金属物理性能试验方法、教育、学位、学衔、元素半导体材料、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
日本工业标准调查会，关于x衍射+ 晶体的标准
- JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
IT-UNI，关于x衍射+ 晶体的标准
- UNI 6966-1971 通过X射线的衍射进行多晶体中的极面图形数量测定
行业标准-教育，关于x衍射+ 晶体的标准
- JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
- JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍身方法通则
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x衍射+ 晶体的标准
- GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
德国标准化学会，关于x衍射+ 晶体的标准
- DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x衍射+ 晶体的标准
- GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
