电子显微镜 测量
本专题涉及电子显微镜 测量的标准有38条。
国际标准分类中，电子显微镜 测量涉及到表面处理和镀涂、长度和角度测量、光学设备、分析化学、空气质量。
在中国标准分类中，电子显微镜 测量涉及到物质成份分析仪器与环境监测仪器、材料防护、稀有金属及其合金分析方法、金属化学分析方法综合、基础标准与通用方法。
国际标准化组织，关于电子显微镜 测量的标准
- ISO 9220-2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- ISO 19749:2021 纳米技术 - 扫描电子显微镜测量粒度和形状分布
- ISO/TS 21383:2021 用于定量测量的扫描电子显微镜鉴定
- ISO 9220-1988 金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
美国材料与试验协会，关于电子显微镜 测量的标准
- ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM B748-90(2016) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM B748-90(2010) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM B748-90(2006) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM B748-90(2001) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM B748-90(1997) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM B748-1990(1997) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM B748-1990(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM B748-1990(2016) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
- ASTM B748-1990(2006) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM B748-1990(2001) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
，关于电子显微镜 测量的标准
- SIS SS-ISO 9220-1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法
法国标准化协会，关于电子显微镜 测量的标准
- NF T16-404-2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
- NF A91-108-1995 金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
韩国标准，关于电子显微镜 测量的标准
- KS D ISO 9220-2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- KS D ISO 9220-2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- KS D 2716-2008 纳米粒子的直径测量技术.透射电子显微镜
- KS D 8544-2006 金属涂层.涂层厚度测量.透射电子显微镜法
- KS D 8544-2006 金属涂层.涂层厚度测量.透射电子显微镜法
日本工业标准调查会，关于电子显微镜 测量的标准
- JIS K3850-3-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第3部分:间接传递透射电子显微镜法
- JIS K3850-1-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K3850-2-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第2部分:直接传递透射电子显微镜法
欧洲标准化委员会，关于电子显微镜 测量的标准
- EN ISO 9220-1994 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
英国标准学会，关于电子显微镜 测量的标准
- BS EN ISO 9220-1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
