EN
KR
JP
ES
RU
DE

x射线反射 薄膜厚度

本专题涉及x射线反射 薄膜厚度的标准有7条。

国际标准分类中，x射线反射 薄膜厚度涉及到信息技术应用、分析化学。

在中国标准分类中，x射线反射 薄膜厚度涉及到长度计量、电子计算机应用、基础标准与通用方法。

英国标准学会，关于x射线反射 薄膜厚度的标准

• BS ISO 16413:2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
• BS ISO 16413:2020 通过 X 射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、对准和定位、数据收集、数据分析和报告

国际标准化组织，关于x射线反射 薄膜厚度的标准

• ISO 16413:2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
• ISO 16413:2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线反射 薄膜厚度的标准

• GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告

韩国科技标准局，关于x射线反射 薄膜厚度的标准

• KS D ISO 16413:2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告

KR-KS，关于x射线反射 薄膜厚度的标准

• KS D ISO 16413-2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告

本站其他标准专题： x射线反射 薄膜厚度，x射线薄膜反射仪。

 

可能用到的仪器设备