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显微镜如何校正
本专题涉及显微镜如何校正的标准有20条。
国际标准分类中，显微镜如何校正涉及到光学设备、长度和角度测量、机械试验、分析化学。
在中国标准分类中，显微镜如何校正涉及到放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、化学。
英国标准学会，关于显微镜如何校正的标准
- BS ISO 19012-2:2010 显微镜 显微镜物镜名称 色彩校正
- BS ISO 19012-2:2013 显微镜.显微镜物镜名称.色彩校正
- BS ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
- BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
- BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
广东省标准，关于显微镜如何校正的标准
- DB44/T 1529.2-2015 显微镜 物镜标志 第2部分：色差校正
美国材料与试验协会，关于显微镜如何校正的标准
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
德国机械工程师协会，关于显微镜如何校正的标准
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准
国家质检总局，关于显微镜如何校正的标准
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
- GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
国际标准化组织，关于显微镜如何校正的标准
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
- ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
- ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
日本工业标准调查会，关于显微镜如何校正的标准
- JIS B 7132-2:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
- JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统
KR-KS，关于显微镜如何校正的标准
- KS B ISO 9345-2-2023 显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第2部分:无限校正光学系统
韩国科技标准局，关于显微镜如何校正的标准
- KS B ISO 9345-2:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
- KS B ISO 9345-2:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第2部分：无限光学校正系统
