光谱 金属 镉
本专题涉及光谱 金属 镉的标准有99条。
国际标准分类中，光谱 金属 镉涉及到半导体材料、珠宝、表面处理和镀涂、有色金属、涂料和清漆、电学、磁学、电和磁的测量、犯罪行为防范、金属材料试验、无损检测、核能工程、电气工程综合、燃料、道路车辆装置、环境保护、电子元器件综合、空气质量、分析化学、长度和角度测量、医疗设备、金属的腐蚀、电灯及有关装置、涂料配料。
在中国标准分类中，光谱 金属 镉涉及到半金属与半导体材料综合、工艺美术品、材料防护、稀有金属及其合金分析方法、涂料基础标准与通用方法、综合技术、犯罪鉴定技术、基础标准和通用方法、涂料辅助材料、石油焦、通信网技术体制、金属化学分析方法综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、基础标准与通用方法、稀有高熔点金属及其合金、电光源产品、金属无损检验方法、其他日用品。
国家质检总局，关于光谱 金属 镉的标准
- GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
- GB/T 21198.2-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第2部分：铂合金首饰 铂含量的测定 采用所有微量元素与铂强度比值法
- GB/T 21198.3-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第3部分:钯合金首饰 钯含量的测定 采用钇为内标
- GB/T 21198.6-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第6部分：差减法
- GB/T 21198.1-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第1部分:铂合金首饰 铂含量的测定 采用钇为内标
- GB/T 21198.5-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第5部分:999‰银合金首饰 银含量的测定 差减法
- GB/T 21198.4-2007 贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 第4部分:999‰贵金属合金首饰 贵金属含量的测定 差减法
- GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
- GB/T 16921-1997 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法
- GB/T 12690.7-1990 稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定金属钕和氧化钕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钐和氧化钇量
- GB/T 9758.7-1988 色漆和清漆 "可溶性"金属含量的测定 第7部分:色漆的颜料部分和水可稀释漆的液体部分的汞含量的测定 无焰原子吸光谱法
- GB/T 7286.2-1987 金属与非金属材料光谱法向发射率试验方法
- GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
公安部，关于光谱 金属 镉的标准
- GA/T 1995-2022 法庭科学 金属检验 波长色散X射线荧光光谱法
美国材料与试验协会，关于光谱 金属 镉的标准
- ASTM E1306-22 光谱化学分析用电弧熔炼法制备金属和合金样品的标准实施规程
- ASTM E1447-22 用热导率或红外光谱法检测的惰性气体熔融法测定活性金属和活性金属合金中氢的标准试验方法
- ASTM E2985/E2985M-14(2019) 基于共振超声光谱的弹性常数测量测定金属纯度的标准实施规程
- ASTM E2001-18 用于金属和非金属部件缺陷检测的共振超声波光谱标准指南
- ASTM C758-18 核级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核和放射化学分析的标准试验方法
- ASTM D6376-10(2017)e1 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM E2985/E2985M-14 基于共振超声光谱的弹性常数测量测定金属纯度的标准实施规程
- ASTM E2985/E2985M-2014 测定基于谐振超声光谱衍生的弹性常数测量的金属纯度的标准实施规程
- ASTM E2001-13 用于金属和非金属部件缺陷检测的共振超声波光谱标准指南
- ASTM B890-07(2012) 通过X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬质合金的金属成分的标准测试方法
- ASTM D6376-10 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM C758-04(2010) 核级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核和放射化学分析的标准试验方法
- ASTM D6376-2010 波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中的痕量金属含量的标准试验方法
- ASTM D6376-09 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM E2001-08 用于金属和非金属部件缺陷检测的共振超声波光谱标准指南
- ASTM E2626-2008e1 反应性难熔金属光谱测定分析标准指南
- ASTM B890-07 通过X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬质合金的金属成分的标准测试方法
- ASTM B890-2007 用X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬金属的金属成分用标准试验方法
- ASTM B890-2007(2012) X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬金属金属成分的标准试验方法
- ASTM D6376-06 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM D6376-05 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM C758-04 核级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核和放射化学分析的标准试验方法
- ASTM C758-2004(2010) 核纯级金属钚的化学、质谱、光谱化学、核(放射性)及放射化学分析的标准试验方法
- ASTM C758-2004 核纯级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核(放射性)及放射化学分析的标准试验方法
- ASTM E2001-98(2003) 用于金属和非金属部件缺陷检测的共振超声波光谱标准指南
- ASTM B890-02 通过X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬质合金的金属成分的标准测试方法
- ASTM B890-2002 X射线荧光光谱法测定钨合金和碳化钨金属成分的标准试验方法
- ASTM D6376-99 通过波长色散X射线荧光光谱法测定石油焦中微量金属的标准测试方法
- ASTM E2001-98 用于金属和非金属部件缺陷检测的共振超声波光谱标准指南
- ASTM C758-98 核级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核和放射化学分析的标准试验方法
- ASTM B890-1998 X射线荧光光谱法测定钨合金和碳化钨金属成分的标准试验方法
- ASTM C758-1998 核纯级钚金属的化学、质谱、光谱化学、核(放射性)及放射化学分析的标准试验方法
- ASTM E1085-1995(2004) 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
，关于光谱 金属 镉的标准
- TS 3181-1978 金属覆盖层 镀层厚度的测量．X射线光谱法
德国标准化学会，关于光谱 金属 镉的标准
- DIN EN 62321-4-2018 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013+A1-2017); 德文版本EN 62321-4-2014+A1-2017
- DIN EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013); 德文版本EN 62321-4-2014
- DIN EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅 (IEC 62321-5-2013); 德文版本EN 62321-5-2014
- DIN EN ISO 3497-2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
- DIN 49860-2-2000 光谱能量分布类似自然光的金属检卤灯.第2部分:运动照明
欧洲标准化委员会，关于光谱 金属 镉的标准
- EN ISO 16773-4-2017 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层的金属试样的第4部分:对聚合物涂层和无涂层的试样光谱的例子(ISO 16773-4:2017)
- EN ISO 3497-2000 金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000
国际标准化组织，关于光谱 金属 镉的标准
- ISO 16773-4:2017 涂覆和未涂覆金属样品上的电化学阻抗谱（EIS） - 第4部分:聚合物涂覆和未涂覆样品的光谱示例
- ISO 3497:2000 金属涂层——涂层厚度的测量——X射线光谱测定法
- ISO 3497-2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
- ISO 3497:1990 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
- ISO 3497-1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
- ISO 3856-1-1983 色漆和清漆“可溶性”金属含量的测定第1部分:铅含量的测定火焰原子吸收光谱法和双硫腙光谱法
- ISO 3497-1976 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
立陶宛标准局，关于光谱 金属 镉的标准
- LST EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅(IEC 62321-5-2013)
- LST EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞(IEC 62321-4-2013)
法国标准化协会，关于光谱 金属 镉的标准
- NF C05-100-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
- NF C05-100-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞
- NF A91-116-2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
- NF A91-116-1976 金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术
英国标准学会，关于光谱 金属 镉的标准
- BS EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
- BS EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
- BS EN ISO 3497-2001 金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法
国际电工委员会，关于光谱 金属 镉的标准
- IEC 62321-5-2013 电工制品中特定物质的测定.第5部分:通过原子吸收分光光度法(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定聚合物和电子中镉、铅和铬及金属中镉和铅
欧洲电信标准协会，关于光谱 金属 镉的标准
- ETSI TR 101 830-2-2008 V1.2.1 传输和复用(TM),接入网络,关于金属接入网络的光谱管理.第2部分:性能评估的技术方法
日本工业标准调查会，关于光谱 金属 镉的标准
- JIS T0306-2002 用X射线光电子光谱法分析金属生物材料形成的无源膜的状态
韩国标准，关于光谱 金属 镉的标准
- KS D ISO 3497-2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
- KS D ISO 3497-2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
行业标准-轻工，关于光谱 金属 镉的标准
- QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法.X荧光光谱法
